日本語
EBSD による単結晶鋳造の低角度粒界欠陥検出
目次
EBSD Orientation Mapping
Misorientation Angle Analysis
Visualizing Dislocation-Based Boundaries
Process Feedback and Quality Control
日本語 / JA
标题：
EBSD による単結晶鋳造の低角度粒界欠陥検出
元描述：
EBSD は結晶方位差マッピングにより、単結晶鋳造品中の微細な格子回転や転位粒界を可視化し、低角度粒界欠陥を検出します。
关键词：
EBSD 低角度粒界検出, 低角度粒界マッピング, 結晶方位差, 単結晶微細組織, CMSX 合金検査, KAM 解析, タービンブレード品質
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