Détection des joints à faible angle par microscopie métallographique

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Détection des joints à faible angle par microscopie métallographique

元描述：

La microscopie métallographique révèle les joints à faible angle grâce à l’attaque chimique, à l’analyse de contraste et à l’orientation des dendrites dans les aubes monocristallines.

关键词：

microscopie métallographique joints à faible angle, aubes monocristallines, analyse d’orientation des dendrites, microstructure CMSX-4, défauts PWA 1484, attaque des joints de grains, métallographie des superalliages, contrôle qualité aubes