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Comment l’EBSD et le CND détectent et préviennent les défauts de grains parasites

Table des matières
EBSD Microstructural Verification
NDT Stray Grain Screening
Prevention Through Process Optimization
Integration with Post-Process Quality Control

Français / FR

标题:

Comment l’EBSD et le CND détectent et préviennent les défauts de grains parasites

元描述:

L’EBSD cartographie l’orientation cristalline tandis que le CND révèle les anomalies structurelles, contribuant à la détection et à la prévention des grains parasites dans les composants monocristallins.

关键词:

détection EBSD des grains parasites, contrôle CND de la coulée, analyse des défauts monocristallins, qualité de solidification directionnelle, évaluation des aubes de turbine, inspection post-HIP, cartographie microstructurale

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