Détection de la recristallisation par rayons X et microscopie métallographique

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标题：

Détection de la recristallisation par rayons X et microscopie métallographique

元描述：

Les méthodes par rayons X détectent les anomalies de densité liées à la recristallisation, tandis que la microscopie métallographique révèle directement la formation de nouveaux grains.

关键词：

détection de la recristallisation, contrôle par rayons X des pièces moulées, analyse métallographique des grains, défauts monocristallins, cartographie CT microstructurale, évaluation des aubes de turbine, vérification microstructurale