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Por qué la microscopía metalográfica es clave en el análisis de fundidos monocristalinos

Tabla de contenidos

Verification of Crystal Integrity and Orientation

Detection of Critical Microstructural Defects

Evaluation of Processing and Post-Treatment Effects

Correlation to Mechanical Performance and Failure Analysis

Español / ES

标题：

Por qué la microscopía metalográfica es clave en el análisis de fundidos monocristalinos

元描述：

La microscopía metalográfica verifica la integridad monocristalina, analiza la morfología de los precipitados γ′ y detecta defectos críticos para el rendimiento de álabes y componentes de alta temperatura.

关键词：

metalografía monocristalina, análisis de precipitados γ′, detección de defectos en fundición SX, identificación de fases TCP, microestructura de superaleaciones, microscopía para análisis de fallas, control de calidad de álabes

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