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EBSD 如何用于检测单晶铸件中的低角度晶界缺陷
目录
EBSD Orientation Mapping
Misorientation Angle Analysis
Visualizing Dislocation-Based Boundaries
Process Feedback and Quality Control
中文 / zh
标题：
EBSD 如何用于检测单晶铸件中的低角度晶界缺陷
元描述：
EBSD 通过绘制晶体学取向差分布，揭示单晶铸件中的细微晶格旋转和位错边界，从而精确识别低角度晶界缺陷。
关键词：
EBSD 低角度晶界检测，低角度晶界取向映射，晶体学取向差，单晶显微组织，CMSX 合金检测，KAM 分析，涡轮叶片质量
