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EBSD 与 NDT 如何检测并预防单晶中的杂晶缺陷
目录
EBSD Microstructural Verification
NDT Stray Grain Screening
Prevention Through Process Optimization
Integration with Post-Process Quality Control
中文 / zh
标题：
EBSD 与 NDT 如何检测并预防单晶中的杂晶缺陷
元描述：
EBSD 可绘制晶体取向分布，NDT 揭示结构异常，二者结合用于检测并预防单晶部件中的杂晶缺陷。
关键词：
EBSD 杂晶检测，无损检测 铸造检验，单晶缺陷分析，定向凝固质量，涡轮叶片评估，HIP 后检验，显微组织映射，晶体学验证
