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金相显微镜如何检测涡轮叶片中的低角度晶界
目录
Microstructure Preparation and Boundary Reveal
Optical Contrast and Dendrite Orientation Analysis
Integration With Advanced Material Analysis
Impact on Quality Control and Blade Performance
中文 / zh
标题：
金相显微镜如何检测涡轮叶片中的低角度晶界
元描述：
金相显微镜通过腐蚀显影、对比度分析和枝晶取向观察，揭示单晶涡轮叶片中的低角度晶界缺陷。
关键词：
金相显微镜 低角度晶界检测，单晶涡轮叶片，枝晶取向分析，CMSX-4 显微组织，PWA 1484 缺陷，晶界腐蚀，高温合金金相，涡轮叶片质量控制
