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Welche Prüfmethoden erfassen Kristalldefekte in Einkristallgussteilen am besten?

Inhaltsverzeichnis

Electron Backscatter Diffraction (EBSD) for Crystallographic Defects

X-Ray Diffraction (XRD) and Laue for Bulk Orientation and Macroscopic Defects

Metallographic Etching for Microstructural and Macro Defect Revelation

Ultrasonic Inspection for Volumetric and Internal Defects

Complementary Tomographic and Compositional Analysis

Integrated Assessment Strategy

Deutsch / DE

标题：

Welche Prüfmethoden erfassen Kristalldefekte in Einkristallgussteilen am besten?

元描述：

EBSD kartiert kristallographische Defekte, Röntgen-Laue prüft Fremdkörner, metallografisches Ätzen zeigt die Mikrostruktur, und Ultraschall/CT erkennt volumetrische Fehlstellen.

关键词：

Detektion von Einkristalldefekten, EBSD Fremdkornanalyse, Röntgen-Laue Orientierung, metallografisches Ätzen Freckles, Ultraschallprüfung Anisotropie, Bewertung der Kristallperfektion, CMSX-4 Defektprüfung

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