Como a microscopia metalográfica detecta limites de baixo ângulo em pás

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Como a microscopia metalográfica detecta limites de baixo ângulo em pás

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A microscopia metalográfica revela limites de baixo ângulo por meio de ataque químico, análise de contraste e mapeamento da orientação dendrítica em pás monocristalinas.

关键词：

microscopia metalográfica limite de baixo ângulo, pás monocristalinas, análise de orientação dendrítica, microestrutura CMSX-4, defeitos PWA 1484, ataque de contornos de grão, metalografia de superligas, controle de qualidade de pás