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Cómo se utiliza el EBSD para detectar defectos de bajo ángulo

Tabla de contenidos
EBSD Orientation Mapping
Misorientation Angle Analysis
Visualizing Dislocation-Based Boundaries
Process Feedback and Quality Control

Español / ES

标题：

Cómo se utiliza el EBSD para detectar defectos de bajo ángulo

元描述：

El EBSD detecta defectos de bajo ángulo mediante el mapeo de desorientaciones cristalográficas, revelando rotaciones sutiles de la red y límites de dislocaciones en fundiciones monocristalinas.

关键词：

detección LAB con EBSD, mapeo de límites de bajo ángulo, desorientación cristalográfica, microestructura monocristalina, inspección de aleaciones CMSX, análisis KAM, calidad de álabes de turbina

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