Español

Cómo los rayos X y la microscopía metalográfica detectan la recristalización

Tabla de contenidos
X-ray Detection of Recrystallization
Advanced X-ray Techniques (CT Scanning)
Metallographic Microscopy for Direct Identification
Integration With Material Testing and Analysis

Español / ES

标题:

Cómo los rayos X y la microscopía metalográfica detectan la recristalización

元描述:

Las técnicas de rayos X identifican anomalías de densidad asociadas a la recristalización, mientras que la microscopía metalográfica muestra directamente la formación de nuevos granos.

关键词:

detección de recristalización, inspección por rayos X en fundición, análisis metalográfico de granos, defectos monocristalinos, mapeo microestructural por CT, evaluación de álabes de turbina, verificación microestructural

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