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Como EBSD e END detectam e previnem defeitos de grãos estranhos

Índice
EBSD Microstructural Verification
NDT Stray Grain Screening
Prevention Through Process Optimization
Integration with Post-Process Quality Control

Português / PT

标题:

Como EBSD e END detectam e previnem defeitos de grãos estranhos

元描述:

O EBSD mapeia a orientação cristalina, enquanto o END revela anomalias estruturais, auxiliando na detecção e prevenção de defeitos de grãos estranhos em componentes monocristalinos.

关键词:

detecção de grãos estranhos por EBSD, inspeção END de fundição, análise de defeitos monocristalinos, qualidade da solidificação direcional, avaliação de pás de turbina, inspeção pós-HIP, mapeamento microestrutural, verificação cristalográfica