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X-रे और मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोपी पुनःस्फटीकरण कैसे पहचानती हैं

सामग्री तालिका

X-ray Detection of Recrystallization

Advanced X-ray Techniques (CT Scanning)

Metallographic Microscopy for Direct Identification

Integration With Material Testing and Analysis

हिन्दी / HI

标题：

X-रे और मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोपी पुनःस्फटीकरण कैसे पहचानती हैं

元描述：

X-रे विधियाँ पुनःस्फटीकरण से जुड़ी घनत्व असामान्यताओं का पता लगाती हैं, जबकि मेटालोग्राफिक माइक्रोस्कोपी नए दानों के निर्माण को सीधे दिखाती है।

关键词：

रीक्रिस्टलाइज़ेशन पहचान, कास्टिंग X-रे निरीक्षण, मेटालोग्राफिक ग्रेन विश्लेषण, सिंगल क्रिस्टल दोष, CT माइक्रोस्ट्रक्चर मैपिंग, टरबाइन ब्लेड मूल्यांकन, माइक्रोस्ट्रक्चर सत्यापन

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