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Métodos eficaces para detectar y evaluar defectos en fundiciones monocristalinas

Tabla de contenidos

Electron Backscatter Diffraction (EBSD) for Crystallographic Defects

X-Ray Diffraction (XRD) and Laue for Bulk Orientation and Macroscopic Defects

Metallographic Etching for Microstructural and Macro Defect Revelation

Ultrasonic Inspection for Volumetric and Internal Defects

Complementary Tomographic and Compositional Analysis

Integrated Assessment Strategy

Español / ES

标题：

Métodos eficaces para detectar y evaluar defectos en fundiciones monocristalinas

元描述：

EBSD mapea defectos cristalográficos, Laue por rayos X detecta granos extraños, el ataque metalográfico revela la microestructura y el ultrasonido/CT identifica defectos volumétricos.

关键词：

detección de defectos monocristalinos, análisis EBSD de granos extraños, orientación Laue rayos X, ataque metalográfico freckles, ensayo ultrasónico anisotropía, evaluación de perfección cristalina, inspección CMSX-4

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