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单晶铸件晶体缺陷检测与评估的关键方法
目录
Electron Backscatter Diffraction (EBSD) for Crystallographic Defects
X-Ray Diffraction (XRD) and Laue for Bulk Orientation and Macroscopic Defects
Metallographic Etching for Microstructural and Macro Defect Revelation
Ultrasonic Inspection for Volumetric and Internal Defects
Complementary Tomographic and Compositional Analysis
Integrated Assessment Strategy
中文 / zh
标题：
单晶铸件晶体缺陷检测与评估的关键方法
元描述：
EBSD 用于晶体学缺陷精确制图，X 射线 Laue 快速筛查杂晶，金相腐蚀揭示显微组织，超声/CT 检测相关体积型缺陷。
关键词：
单晶缺陷检测，EBSD 杂晶分析，X 射线 Laue 晶向，金相腐蚀 雀斑，超声检测 各向异性，晶体完整性评估，CMSX-4 缺陷检测
