Русский

Методы выявления и оценки дефектов в монокристаллических отливках

Содержание

Electron Backscatter Diffraction (EBSD) for Crystallographic Defects

X-Ray Diffraction (XRD) and Laue for Bulk Orientation and Macroscopic Defects

Metallographic Etching for Microstructural and Macro Defect Revelation

Ultrasonic Inspection for Volumetric and Internal Defects

Complementary Tomographic and Compositional Analysis

Integrated Assessment Strategy

Русский / RU

标题：

Методы выявления и оценки дефектов в монокристаллических отливках

元描述：

EBSD картирует кристаллографические дефекты, рентгеновский метод Лауэ выявляет посторонние зерна, металлографическое травление показывает микроструктуру, а УЗ/КТ обнаруживает объемные дефекты.

关键词：

обнаружение дефектов монокристаллов, EBSD анализ посторонних зерен, ориентация Лауэ рентген, металлографическое травление freckles, ультразвуковой контроль анизотропии, оценка совершенства кристалла, инспекция CMSX-4

Related Blogs