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Cómo las pruebas por rayos X y SEM aseguran la calidad del recargue láser

Tabla de contenidos
X-ray Testing for Internal Defects
SEM for Microstructural Examination
Correlation With Post-Process Treatments
Functional Performance Validation

Español / ES

标题:

Cómo las pruebas por rayos X y SEM aseguran la calidad del recargue láser

元描述:

Las pruebas por rayos X y SEM detectan defectos internos y verifican la unión microestructural en piezas de superaleación recargadas por láser, garantizando su durabilidad antes del ensamblaje final.

关键词:

recargue láser rayos X, análisis microestructural SEM, verificación HIP, detección de defectos Inconel, control de calidad aeroespacial de recargue

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